h1
h2
h3
h4
h5
h6
RWTH Publications
English
Deutsch
Gast ::
Anmelden
Suchen
Publizieren & Eintragen
Personalisieren
Meine Benachrichtigungen
Meine Körbe
Meine Suchanfragen
Mein Personennormsatz
Hilfe
Mehr Informationen
Referenzen
Diskussion
Dateien
Lattice Deformation at Submicron Scale : X-Ray Nanobeam Measurements of Elastic Strain in Electron Shuttling Devices
- RWTH-2024-03271
Main document
Datei(en):
983205
Version 1
983205.pdf
[4.37 MB]
03 Mai 2024, 15:59
OpenAccess
Ähnliche Datensätze
RWTH
RWTH Aachen - Startseite
Universitätsbibliothek
Kontakt
Redaktion
Publizieren
Administration
RWTH Publications
Policy
Tutorials
Leitfaden
Allgemeines
Impressum
Disclaimer
Gast ::
983205