Klick, S. ; Finster, P. ; Graff, K. M. ; Ziebert, C. ; ; et al
DOI: 10.18154/RWTH-2026-03769
Sinning, A. ; Würger, S. ; Guo, W. ; Li, W. ; ; et al
DOI: 10.18154/RWTH-2026-03378
Klaka, K. ; Schlittmeier, S. J.
DOI: 10.18154/RWTH-2026-03109
Elsner, F. A.
DOI: 10.5281/ZENODO.18232447
Brinkmann, T. ; Yildirim, D. ; Quérel, C. ; Schaub, J. ; ; et al
DOI: 10.5281/ZENODO.18467559
Schaber, P. ; Bedei, J. ; Ratz, F. ; Andert, J. L.
DOI: 10.5281/ZENODO.18255856
Crampen, D. ; Hartung, F. ; Effkemann, C. ; Becker, R. ; ; et al
DOI: 10.25532/OPARA-977
Brand, R. F. ; Kemper, F.
DOI: 10.5281/ZENODO.17737137
DOI: 10.5281/ZENODO.17737078
DOI: 10.5281/ZENODO.17737055