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X-ray reflectivity from micrometre-scaled surfaces using nanobeams
Vonk, Vedran (Corresponding author) ; Tober, Steffen ; Leake, Steven J. ; Rabelo Coutinho Saraiva, Breno ; Randolph, Lisa ; Dangwal Pandey, Arti ; Keller, Thomas F. ; Steinrück, Hans-GeorgRWTH* ; Stierle, Andreas (Corresponding author)
In
Journal of applied crystallography 58(6), Seiten/Artikel-Nr.:1978-1985
2025
ImpressumCopenhagen : Munksgaard
ISSN1600-5767
Online
DOI: 10.1107/S1600576725008179
10.1107/S1600576725008179
DOI: 10.18154/RWTH-2026-00248
URL: https://publications.rwth-aachen.de/record/1024685/files/1024685.pdf
Einrichtungen
- Institut für Physikalische Chemie (153005)
- Fachgruppe Chemie (150000)
Thematische Einordnung (Klassifikation)
DDC: 540
OpenAccess:
PDF
Dokumenttyp
Journal Article
Format
online
Sprache
English
Anmerkung
Peer reviewed article
Externe Identnummern
SCOPUS: SCOPUS:2-s2.0-105023959050
WOS Core Collection: WOS:001632255400012
Interne Identnummern
RWTH-2026-00248
Datensatz-ID: 1024685
Beteiligte Länder
France, Germany
Lizenzstatus der Zeitschrift


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; Clarivate Analytics Master Journal List ; Current Contents - Physical, Chemical and Earth Sciences ; DEAL Wiley ; Ebsco Academic Search ; Essential Science Indicators ; IF >= 5 ; JCR ; Nationallizenz

; SCOPUS ; Science Citation Index Expanded ; Web of Science Core Collection