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%0 Electronic Article
%A Binev, Peter
%A Dahmen, Wolfgang
%A DeVore, Ronald A.
%A Lamby, Philipp
%A Savu, Daniel
%A Sharpley, Robert C.
%T Compressed sensing and electron microscopy
%V 316
%C Aachen
%I RWTH Aachen Univ., IGPM
%M RWTH-CONV-008129
%B Bericht / Institut für Geometrie und Praktische Mathematik, RWTH Aachen
%P 53 S. ; graph. Darst.
%D 2010
%F PUB:(DE-HGF)25
%9 Preprint
%U https://publications.rwth-aachen.de/record/47316