h1

h2

h3

h4

h5
h6
TY  - EJOUR
AU  - Binev, Peter
AU  - Dahmen, Wolfgang
AU  - DeVore, Ronald A.
AU  - Lamby, Philipp
AU  - Savu, Daniel
AU  - Sharpley, Robert C.
TI  - Compressed sensing and electron microscopy
VL  - 316
CY  - Aachen
PB  - RWTH Aachen Univ., IGPM
M1  - RWTH-CONV-008129
T2  - Bericht / Institut für Geometrie und Praktische Mathematik, RWTH Aachen
SP  - 53 S. ; graph. Darst.
PY  - 2010
LB  - PUB:(DE-HGF)25
UR  - https://publications.rwth-aachen.de/record/47316
ER  -