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Untersuchung der Kristallgitterdefekte und der Kompensationsmechanismen in hoch siliziumdotiertem GaAs mit Hilfe der Rastertunnelmikroskopie
1998
Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1998
Auch als:‘Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 3566
Genehmigende Fakultät
Fak01
Hauptberichter/Gutachter
Online
URL: http://hdl.handle.net/2128/22481
Einrichtungen
External link: 
Bibliographic record
Dokumenttyp
Dissertation / PhD Thesis
Format
print, online
Sprache
German
Externe Identnummern
HBZ: HT009240445
Interne Identnummern
RWTH-CONV-117299
Datensatz-ID: 55156
Beteiligte Länder
Germany
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Jülich : Forschungszentrum Jülich, Zentralbibl, Berichte des Forschungszentrums Jülich 3566, II, 145 S. : Ill., graph. Darst. (1998) = Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1998
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