h1

h2

h3

h4

h5
h6
http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png

Charakterisierung von MOVPE-II-VI-Halbleiter-Schichten mittels Röntgendiffraktometrie



VerantwortlichkeitsangabeJun Xu

Ausgabe1. Aufl.

ImpressumAachen : Mainz 1999

Umfang147 S. : graph. Darst.

ISBN3-89653-477-7


Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1999


Genehmigende Fakultät
Fak01

Hauptberichter/Gutachter


Tag der mündlichen Prüfung/Habilitation
1999-01-11

Einrichtungen

  1. Fakultät für Mathematik, Informatik und Naturwissenschaften (100000)


Dokumenttyp
Dissertation / PhD Thesis/Book

Format
print

Sprache
German

Externe Identnummern
HBZ: HT010499128

Interne Identnummern
RWTH-CONV-117629
Datensatz-ID: 55490

Beteiligte Länder
Germany

 GO

QR Code for this record

The record appears in these collections:
Document types > Theses > Ph.D. Theses
Document types > Books > Books
Faculty of Mathematics and Natural Sciences (Fac.1) > No department assigned
Public records
Publications database
100000
 Record created 2013-01-28, last modified 2026-08-14
Similar records


Internal catalog entry:
Download fulltext PDF
Rate this document:

Rate this document:
1
2
3
4
5
 
(Not yet reviewed)