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Imprint: an important failure mechanism of ferroelectric thin films in view of memory applications
2001
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss.
Genehmigende Fakultät
Fak06
Hauptberichter/Gutachter
Tag der mündlichen Prüfung/Habilitation
2001-06-22
Einrichtungen
Dokumenttyp
Dissertation / PhD Thesis/Book
Format
print
Sprache
English
Externe Identnummern
HBZ: HT013137712
Interne Identnummern
RWTH-CONV-121400
Datensatz-ID: 59631
Beteiligte Länder
Germany
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