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Hochtemperatur-Roentgentopografie an Silizium und Galliumarsenid



VerantwortlichkeitsangabeKrüger, Hans-Eckhard

ImpressumAachen 1976

Umfang165 S.


Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1976


Genehmigende Fakultät
Fak06

Hauptberichter/Gutachter


Tag der mündlichen Prüfung/Habilitation
1976-06-29

Einrichtungen

  1. Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (600000)


Dokumenttyp
Dissertation / PhD Thesis

Format
print

Sprache
German

Externe Identnummern
HBZ: HT000228275

Interne Identnummern
RWTH-CONV-122329
Datensatz-ID: 60627

Beteiligte Länder
Germany

 GO

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The record appears in these collections:
Document types > Theses > Ph.D. Theses
Faculty of Electrical Engineering and Information Technology (Fac.6)
Public records
Publications database
600000
 Record created 2013-01-28, last modified 2022-04-05
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