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Charakterisierung von ohmschen Titan-Aluminium-Kontakten auf Silizium-dotiertem Galliumnitrid mit der Augerelektronenspektroskopie und der energiefilternden Transmissionselektronenmikroskopie
2003
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 2003
Genehmigende Fakultät
Fak01
Hauptberichter/Gutachter
Tag der mündlichen Prüfung/Habilitation
2002-12-13
Einrichtungen
Dokumenttyp
Dissertation / PhD Thesis/Book
Format
print
Sprache
German
Externe Identnummern
HBZ: HT013800709
Interne Identnummern
RWTH-CONV-208191
Datensatz-ID: 61829
Beteiligte Länder
Germany
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