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000876233 150__ $$aVorwissensbasierte Analyse atomar aufgelöster Bilddaten (A04)$$y2020 -
000876233 371__ $$aProfessor Dr. Benjamin Berkels
000876233 450__ $$aSFB 1394 A04$$wd$$y2020 -
000876233 5101_ $$0I:(DE-588b)2007744-0$$aDeutsche Forschungsgemeinschaft$$bDFG
000876233 550__ $$0G:(GEPRIS)409476157$$aSFB 1394: Strukturelle und chemische atomare Komplexität – Von Defekt-Phasendiagrammen zu Materialeigenschaften$$wt
000876233 680__ $$aZiel des Projekts ist die Entwicklung und Implementierung neuer Methoden zur automatischen Kristalldefekt-Analyse atomar aufgelöster Bilddaten. Hierzu werden wir Methoden zur automatischen Erkennung von Strukturen/Mustern in 2D-Atomgittern entwickeln. Zusätzlich werden wir Verfahren für automatisches Bump-Fitting, d.h. zur Lokalisierung von Atomen in Bilddaten, entwerfen. Zusammen werden wir diese als Basis für einen quantitativen Vergleich entsprechender Strukturen in experimentellen und simulierten Daten nutzen. Die entwickelten Bildanalysealgorithmen werden dockerisiert und so dem gesamten SFB zugänglich gemacht.
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