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|a Lin, You-Ron
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245 _ _ |a Structure of two-dimensional multilayers and topological superconductors : surfactant mediated growth, intercalation, and doping
|c You-Ron Lin
|h online, print
260 _ _ |a Jülich
|b Forschungszentrum Jülich GmbH, Zentralbibliothek, Verlag
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300 _ _ |a x, 111 Seiten : Illustrationen, Diagramme
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|a DISSERTATION
490 0 _ |a Schriften des Forschungszentrums Jülich. Reihe Information
|v 99
500 _ _ |a Druckausgabe: 2023. - Onlineausgabe: 2023. - Auch veröffentlicht auf dem Publikationsserver der RWTH Aachen University
502 _ _ |a Dissertation, RWTH Aachen University, 2023
|b Dissertation
|c RWTH Aachen University
|d 2023
|g Fak01
|o 2023-04-25
520 3 _ |a Diese Arbeit konzentriert sich hauptsächlich auf das epitaktische Wachstum von hochwertigem einlagigem Graphen mit unkonventionellen Ausrichtungen und auf die in Zusammenhang gehörigen Mehrschichtensysteme. Die Studie legt den Schwerpunkt auf die Bestimmung der vertikalen Strukturen und Schichtabstände, um die Kopplung und Wechselwirkungen zwischen den atomaren Schichten in solchen gestapelten Systemen zu verstehen. Darüber hinaus beschäftigt sich ein Teil der Arbeit mit dem Sr-dotierten Bi2Se3-Kristall und zielt darauf ab, den vertikale Position der Sr-Dotierung innerhalb des Kristalls mithilfe der normal incidence x-ray standing wave (NIXSW)-Technik zu bestimmen. Die Forschung verwendet auch weitere analytische Methoden wie XPS, LEED und ARPES, um die chemischen und elektronischen Eigenschaften dieser Materialien zu charakterisieren.
|l ger
520 _ _ |a This work primarily focuses on epitaxial growth of high-quality single-layer graphene and graphene-related stacked layer systems with unconventional orientations. The study emphasizes determining the vertical structures and layer distances to understand coupling and interactions between the atomic layers in such stacked systems. Additionally, a portion of the work explores Sr-doped Bi2Se3 crystal, aiming to pinpoint the Sr dopant's location within the crystal, utilizing the normal-incidence x-ray standing wave (NIXSW) technique. The research employs further analytical methods, such as XPS, LEED, and ARPES, to characterize the chemical and electronic properties of these materials.
|l eng
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|a SFB 1083 A12 - Struktur und Anregungen von hetero-epitaktischen Schichtsystemen aus schwach wechselwirkenden 2D-Materialien und molekularen Schichten (A12) (385975694)
|c 385975694
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|a SFB 1083: Struktur und Dynamik innerer Grenzflächen
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|a Kumpf, Christian
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|a Sokolowski, Moritz
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|a Ternes, Markus Peter
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|l Lehrstuhl für Experimentalphysik IV A (FZ Jülich)
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Marc 21