Ramones, A. I. ; Kieling, S.
DOI: 10.5281/ZENODO.15395710
Elsner, F. A. ; Gerhards, P. ; Berrier, G. ; Vincent, R. ; ; et al
DOI: 10.5281/ZENODO.15438359
Mohanathasan, C. ; Schiller, I. S. ; Schlittmeier, S. J. (Corresponding author)
DOI: 10.18154/RWTH-2025-05207
Koch, M. ; Pielsticker, S. ; Kneer, R.
DOI: 10.5281/ZENODO.15479638
Chahbaz, A. ; Schreiber, M. ; Rinner, J. ; Hinojosa, J. M. ; ; et al
DOI: 10.18154/RWTH-2025-04811
van der Velden, T. ; Reese, S. ; Holthusen, H. ; Brepols, T.
DOI: 10.5281/ZENODO.11171630
Özer, B. ; Maßmeyer, A. L. ; Zabrodiec Garcia, D. M. ; Hatzfeld, O. ; ; et al
DOI: 10.18154/RWTH-2025-04398
Özer, B. ; Zabrodiec Garcia, D. M. ; Kneer, R. ; Maßmeyer, A. L.
DOI: 10.18154/RWTH-2025-04397
Terhorst-Kluge, K. A. ; Himmelseher, K.
DOI: 10.18154/RWTH-2025-04104
Winkler, A. ; Shah, P. B. ; Andert, J.
DOI: 10.5281/ZENODO.15165902
Gast ::