Schnorbus, A. ; Gerlach, T. ; Oeser, M. (Editor)
DOI: 10.18154/RWTH-2019-01954
Beikirch, M. ; Cramer, S. ; Frank, M. ; Otte, P. J. ; ; et al
DOI: 10.18154/RWTH-2018-230430
Frekers, Y. H. (Corresponding author)
DOI: 10.18154/RWTH-2018-229376
DOI: 10.18154/RWTH-2018-229375
Witew, I. B. (Corresponding author) ; Vorländer, M.
DOI: 10.18154/RWTH-2018-229173
DOI: 10.18154/RWTH-2018-229172
Amman, F. ; Krietsch, H. ; Jalali, M. ; Gischig, V. ; ; et al
DOI: 10.3929/ETHZ-B-000276170
Villiger, L. ; Gischig, V. ; Doetsch, J. ; Krietsch, H. ; ; et al
URL: https://www.research-collection.ethz.ch/handle/20.500.11850/280357
Krietsch, H. (Corresponding author) ; Doetsch, J. ; Dutler, N. ; Jalali, M. ; ; et al
DOI: 10.3929/ethz-b-000243199
Doetsch, J. ; Gischig, V. S. ; Villiger, L. ; Krietsch, H. ; ; et al
URL: https://www.research-collection.ethz.ch/handle/20.500.11850/253941
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