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In
Mustererkennung 2000 : 22. DAGM-Symposium, Kiel, 13. - 15. September 2000 / Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung / Gerald Sommer; Norbert Krüger; Christian Perwass (Hrsg.), Seiten/Artikel-Nr: 107-114
2000
Online
URL: http://www-i6.informatik.rwth-aachen.de/publications/downloader.php?id=105&row=pdf
Einrichtungen
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Fulltext
Dokumenttyp
Contribution to a conference proceedings/Contribution to a book
Format
online, print
Sprache
English
Anmerkung
Peer reviewed article
Interne Identnummern
RWTH-CONV-179500
Datensatz-ID: 107221
Beteiligte Länder
Germany
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