Mohanathasan, C. ; Schiller, I. S. ; Schlittmeier, S. J. (Corresponding author)
DOI: 10.18154/RWTH-2025-05207
Koch, M. ; Pielsticker, S. ; Kneer, R.
DOI: 10.5281/zenodo.15479638
Chahbaz, A. ; Schreiber, M. ; Rinner, J. ; Hinojosa, J. M. ; ; et al
DOI: 10.18154/RWTH-2025-04811
van der Velden, T. ; Reese, S. ; Holthusen, H. ; Brepols, T.
DOI: https://doi.org/10.5281/zenodo.11171630
Özer, B. ; Maßmeyer, A. L. ; Zabrodiec Garcia, D. M. ; Hatzfeld, O. ; ; et al
DOI: 10.18154/RWTH-2025-04398
Özer, B. ; Zabrodiec Garcia, D. M. ; Kneer, R. ; Maßmeyer, A. L.
DOI: 10.18154/RWTH-2025-04397
Terhorst-Kluge, K. A. ; Himmelseher, K.
DOI: 10.18154/RWTH-2025-04104
Winkler, A. ; Shah, P. B. ; Andert, J.
DOI: 10.5281/ZENODO.15165902
Yildiz, A. ; Zhao, H. ; Kowalski, J.
DOI: 10.6084/M9.FIGSHARE.C.6172702.V1
Terschanski, B. ; Klöfkorn, R. ; Dedner, A. ; Kowalski, J.
DOI: 10.5281/ZENODO.14794312
guest ::