Nolte, A. ; Döntgen, M. ; Heufer, K. A.
DOI: 10.18154/RWTH-2026-08437
Ermert, C. A. ; Dewi, H. K. ; Smeds, K. ; Fels, J.
DOI: 10.5281/zenodo.21062865
Weirich, T. E. ; Zischke, S. G.
DOI: 10.5281/zenodo.21980782
Kolisch, F. ; Oflazgil, S. ; Klinkel, S.
DOI: 10.5281/zenodo.17296336
Nguyen, D. M. ; Chahbaz, A. ; Hildenbrand, F. E. A. ; Quade, K. L. ; ; et al
DOI: 10.18154/RWTH-2026-07456
Tinz, S. ; Toussaint, J. N. ; Schmitz, M. ; Walters, M. ; ; et al
DOI: 10.5281/zenodo.17043815
Wang, Y. ; von der Aßen, N. V. ; Zhang, Q.
DOI: 10.5281/ZENODO.14860488
Weber, N. K. ; Sallach, D.
DOI: 10.17632/mc46tw9t8m.1
Zurmühlen, S. ; Koltermann, L. ; Sauer, D. U.
DOI: 10.18154/RWTH-2026-06637
Sprink, J. D. ; Sender, B. L. H. ; Schmitz, K.
DOI: 10.18154/RWTH-2026-06233
Gast ::