Döntgen, M. ; Heufer, K. A.
DOI: 10.18154/RWTH-2026-10548
Ezeoba, E. O. ; Celik, S. ; Stahl, G. K. ; Sauer, D. U.
DOI: 10.18154/RWTH-2026-10225
Laufen, H. L. ; Falkenstein, T. K. ; Hempen, E. J. ; Giesen, J. K. ; ; et al
DOI: 10.18154/RWTH-2026-09770
Heinemann, B. ; Striewe, M. ; Bernoth, J. ; Strickroth, S. ; ; et al
DOI: 10.17605/OSF.IO/23K74
Chen, Q. ; Menzel, N. ; Boxberg, M. S. ; Kowalski, J.
DOI: 10.5281/zenodo.19886769
Ahrend, O. a.
DOI: 10.5281/zenodo.16038203
Zimmer, P. M. M. ; Lückerath, M. T. ; Pischinger, S.
DOI: 10.18154/RWTH-2026-08826
Demandt, E. I.
DOI: 10.5281/zenodo.20641349
Nolte, A. ; Döntgen, M. ; Heufer, K. A.
DOI: 10.18154/RWTH-2026-08437
Döntgen, M. ; Heufer, K. A. ; Pelucchi, M. ; Pratali Maffei, L.
DOI: 10.18154/RWTH-2026-08169
Gast ::