Villevieille, C. ; Renais, C. ; Mercier-Guyon, B. ; Wasylowski, D. ; ; et al
DOI: 10.21203/rs.3.rs-5111062/v1
Zheng, P. A. B. ; Navid, K. ; Bishoyi, P. K. ; Zhu, Y. ; ; et al
DOI: 10.48550/arXiv.2503.07116
Wang, T. ; Quast, C. ; Bönner, F. ; Kelm, M. ; ; et al
DOI: 10.21203/rs.3.rs-4593892/v1
Rotte, R.
DOI: 10.31235/osf.io/et9kc
DOI: 10.31235/osf.io/3huq9
Massiani, P. J. ; Trimpe, J. S. ; Solowjow, F.
DOI: 10.48550/arXiv.2406.06101
Eckwert, J. ; Ahmed, R. A. ; Leonhard, K. ; Kopp, W.
DOI: 10.2139/ssrn.5035278
Epping, B. (Corresponding author) ; René, A. ; Helias, M. ; Schaub, M. T.
DOI: 10.48550/arXiv.2406.02269
Liu, Y. ; Shen, T. ; Li, X. ; Kohrn, M. F. ; ; et al
DOI: 10.2139/ssrn.4146427
Ziegler, M. ; Posada Moreno, A. F. ; Solowjow, F. ; Trimpe, J. S.
DOI: 10.48550/arXiv.2412.00395
Gast ::