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http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png

Effiziente Modellierung von 'Hot-electron'-Effekten in MOS-Transistoren



Verantwortlichkeitsangabevorgelegt von Bernd Meinerzhagen

ImpressumAachen 1995

Umfang99 S. : graph. Darst.


Aachen, Techn. Hochsch., Habil.-Schr., 1995


Genehmigende Fakultät
Fak00

Hauptberichter/Gutachter


Einrichtungen

  1. RWTH Aachen (hsbk000000)


Dokumenttyp
Habil / Postdoctoral Thesis (Non-german Habil)

Format
print

Sprache
German

Interne Identnummern
RWTH-CONV-111950
Datensatz-ID: 46294

Beteiligte Länder
Germany

 GO

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Document types > Theses > Postdoctoral Theses
RWTH Aachen (no further subdivision)
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 Record created 2013-01-25, last modified 2022-11-18
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