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Elektronenmikroskopische Untersuchung von Korngrenzen in epitaktischen YBa 2 Cu 3 O 7 -Dünnfilmen auf SrTiO 3 -Bikristall-Substraten



VerantwortlichkeitsangabeJin-Won Seo

ImpressumJülich : Zentralbibliothek, Forschungszentrum Jülich 1996

Umfang127 S. : Ill., graph. Darst.

ReiheBerichte des Forschungszentrums Jülich ; 3177


Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss.


Genehmigende Fakultät
Fak00

Hauptberichter/Gutachter


Einrichtungen

  1. RWTH Aachen (hsbk000000)

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Dokumenttyp
Dissertation / PhD Thesis/Book

Format
print, online

Sprache
German

Externe Identnummern
HBZ: HT007136054

Interne Identnummern
RWTH-CONV-119342
Datensatz-ID: 57288

Beteiligte Länder
Germany

 GO

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