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Strukturelle Charakterisierung von Grenzflächen und Korngrenzen in CVD-Diamantfilmen auf Silizium-Substraten mittels hochauflösender Verfahren der Transmissionselektronenmikroskopie



VerantwortlichkeitsangabeDirk Wittorf

ImpressumJülich : Forschungszentrum, Zentralbibl 1999

Umfang165 S. : Ill., graph. Darst.

ReiheBerichte des Forschungszentrums Jülich ; 3637


Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss.


Genehmigende Fakultät
Fak01

Hauptberichter/Gutachter


Tag der mündlichen Prüfung/Habilitation
1999-01-29

Einrichtungen

  1. Fakultät für Mathematik, Informatik und Naturwissenschaften (100000)

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Dokumenttyp
Dissertation / PhD Thesis/Book

Format
online, print

Sprache
German

Externe Identnummern
HBZ: HT010609145

Interne Identnummern
RWTH-CONV-119416
Datensatz-ID: 57362

Beteiligte Länder
Germany

 GO

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Aachen 165 S. : Ill., graph. Darst. () = Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1999  GO OpenAccess  Download fulltext Files  Download fulltextBibliographic record BibTeX | EndNote: XML, Text | RIS

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 Record created 2013-01-28, last modified 2025-06-20
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