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Strukturelle Charakterisierung von Grenzflächen und Korngrenzen in CVD-Diamantfilmen auf Silizium-Substraten mittels hochauflösender Verfahren der Transmissionselektronenmikroskopie
1999
Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1999
Genehmigende Fakultät
Fak01
Hauptberichter/Gutachter
Tag der mündlichen Prüfung/Habilitation
1999-01-29
Online
URL: http://hdl.handle.net/2128/4434
Einrichtungen
External link: 
Bibliographic record
Dokumenttyp
Dissertation / PhD Thesis
Format
online, print
Sprache
German
Externe Identnummern
HBZ: HT010839318
Interne Identnummern
RWTH-CONV-119421
Datensatz-ID: 57367
Beteiligte Länder
Germany
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Strukturelle Charakterisierung von Grenzflächen und Korngrenzen in CVD-Diamantfilmen auf Silizium-Substraten mittels hochauflösender Verfahren der Transmissionselektronenmikroskopie
Jülich : Forschungszentrum, Zentralbibl, Berichte des Forschungszentrums Jülich 3637, 165 S. : Ill., graph. Darst. (1999) = Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss.
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