h1

h2

h3

h4

h5
h6
 
  1. 10.1002/ente.201500296
  2. 10.1002/wcms.1159
  3. 2006 10.1007/978-3-540-45298-0
  4. 10.1016/j.cpc.2004.12.014
  5. 10.1016/j.jpcs.2007.02.027
  6. 10.1016/j.matchemphys.2012.08.024
  7. 10.1038/nature08916
  8. 10.1038/nmat2934
  9. 10.1038/nmat3456
  10. 10.1038/nnano.2011.96
  11. 10.1038/nphys1270
  12. 10.1038/srep13496
  13. 10.1038/srep23843
  14. 10.1063/1.1502915
  15. 10.1063/1.3437636
  16. 10.1063/1.348620
  17. 10.1063/1.4921294
  18. 10.1063/1.4949011
  19. 10.1080/00107517008202194
  20. 10.1088/0034-4885/78/1/013001
  21. 10.1088/0953-8984/21/24/245401
  22. 10.1088/0957-4484/22/25/254021
  23. 10.1103/PhysRevB.44.9118
  24. 10.1103/PhysRevB.54.1703
  25. 10.1103/PhysRevB.78.224111
  26. 10.1103/PhysRevB.82.201312
  27. 10.1103/PhysRevB.86.205302
  28. 10.1103/PhysRevLett.109.146601
  29. 10.1103/PhysRevLett.21.1450
  30. 10.1103/PhysRevLett.77.3865
  31. 10.1107/S0108768104022906
  32. 10.1109/TED.2014.2330457
  33. 10.1116/1.3301579
  34. I. I. Petrov 1968 1968
  35. S. Lai IEDM Technical Digest: International Electron Devices Meeting 2001 IEDM Technical Digest: International Electron Devices Meeting 2001
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