Record #873804 - RWTH Publications

SFB 917 T01

Fehlermechanismus und Zuverlässigkeit von Valenzwechselspeichern (T01*)

Coordinator	Professor Dr.-Ing. Rainer Waser
Grant period	2019 - 2025
Funding body	Deutsche Forschungsgemeinschaft
	DFG
Identifier	G:(GEPRIS)426866072

⇧ SFB 917: Resistiv schaltende Chalkogenide für zukünftige Elektronikanwendungen: Struktur, Kinetik und Bauelementskalierung "Nanoswitches" ⇧

Note: Im Projekt wird die statistische Charakterisierung von VCM-Zellen unter Anwendungsbedin-gungen durchgeführt, um die relevanten Fehlerphänomene zu identifizieren. Simulationsstudien mit den in der letzten Zeit entwickelten KMC-, Kompakt- und Kontinuumsmodellen ergänzen die experimentellen Arbeiten. Ziel ist es, die physikalische Ursache des Bauelementfehlers durch den Vergleich der Simulati-onsergebnisse mit den experimentellen Daten aufzuklären. Schließlich werden Strategien zur Minimie-rung der Ausfallraten entwickelt. Diese Arbeit wird in Zusammenarbeit mit der Infineon Technologies AG als Industriepartner durchgeführt.

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Dissertation / PhD Thesis Kopperberg, N.RWTH* ; Waser, R. (Thesis advisor)RWTH* ; Jungemann, C. (Thesis advisor)RWTH*
Modelling the reliability of valence change mechanism devices
Aachen : RWTH Aachen University 1 Online-Ressource : Illustrationen (2025) [10.18154/RWTH-2025-03343]2025 = Dissertation, Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen, 2025 OpenAccess Files BibTeX | EndNote: XML, Text | RIS