Datensatz #876233 - RWTH Publications

SFB 1394 A04

Vorwissensbasierte Analyse atomar aufgelöster Bilddaten (A04)

Coordinator	Professor Dr. Benjamin Berkels
Grant period	2020 -
Funding body	Deutsche Forschungsgemeinschaft
	DFG
Identifier	G:(GEPRIS)437412087

⇧ SFB 1394: Strukturelle und chemische atomare Komplexität – Von Defekt-Phasendiagrammen zu Materialeigenschaften ⇧

Note: Ziel des Projekts ist die Entwicklung und Implementierung neuer Methoden zur automatischen Kristalldefekt-Analyse atomar aufgelöster Bilddaten. Hierzu werden wir Methoden zur automatischen Erkennung von Strukturen/Mustern in 2D-Atomgittern entwickeln. Zusätzlich werden wir Verfahren für automatisches Bump-Fitting, d.h. zur Lokalisierung von Atomen in Bilddaten, entwerfen. Zusammen werden wir diese als Basis für einen quantitativen Vergleich entsprechender Strukturen in experimentellen und simulierten Daten nutzen. Die entwickelten Bildanalysealgorithmen werden dockerisiert und so dem gesamten SFB zugänglich gemacht.

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Journal Article Jang, K. ; Dey, P. ; Dutta, B. ; Park, H. ; Son, J.-H. ; Jang, J.-I. ; Bhat, M. K. ; Jang, H. ; Kim, H. ; Choi, J. ; Zhang, S. ; Villoro, R. B. ; Berkels, B.RWTH* ; Kim, B. ; Choi, P.-P. ; Oh, M.-W. ; Jung, Y. S. ; Han, J. W. ; Scheu, C. (Corresponding author) ; Jung, C. (Corresponding author)
Improved thermal stability of NbCoSn half-Heusler compounds via Sb doping-induced complementary point defect evolution
The chemical engineering journal 518, 164845 (2025) [10.1016/j.cej.2025.164845]2025 BibTeX | EndNote: XML, Text | RIS

Journal Article/Contribution to a conference proceedings Zhang, S. ; Zhou, X. ; Ahmad, S. ; Mathews, P. ; Hickel, T. ; Neugebauer, J. ; Alhassan, A. S. A.RWTH* ; Berkels, B.RWTH* ; Dehm, G. ; Scheu, C.
Triggering and tracking grain boundary phase transformation at atomic resolution
202417. European Microscopy Congress, EMC 2024, CopenhagenCopenhagen, Denmark, 24 Aug 2024 - 30 Aug 20242024-08-242024-08-30 BIO Web of Conferences 129, 23005 (2024) [10.1051/bioconf/202412923005] special issue: "The 17th European Microscopy Congress (EMC 2024) / Copenhagen, Denmark, August 25-30, 2024 / K. Qvortrup and K. Weede (eds.)"2024 OpenAccess Files BibTeX | EndNote: XML, Text | RIS