http://join2-wiki.gsi.de/foswiki/pub/Main/Artwork/join2_logo100x88.png
Exploring the use of extreme temperatures to facilitate fault propagation in ReRAMs
Santos Copetti, Thiago (Corresponding author)RWTH* ; Chordia, AkshRWTH* ; Fieback, M. ; Taouil, M. ; Hamdioui, S. ; Bolzani Poehls, L. M.
In
Special issue of Latin American Test Symposium 2024 / guest editors: Dr. Leticia Maria Bolzani Poehls, Dr. Ernesto Sanchez, Dr. Yervant Zorian, Dr. Tiago Balen, Dr. Marcelo Lubaszewski, Prof. Dr. Cristina Meinhardt
In
Microelectronics reliability 175, Seiten/Artikel-Nr.:115919
2025
Konferenz/Event:25. IEEE Latin American Test Symposium
, Maceió , Brazil , LATS 2024 , 2024-04-09 - 2024-04-12
ImpressumAmsterdam [u.a.] : Elsevier
Umfang[1]-8
ISSN0026-2714
Online
DOI: 10.1016/j.microrel.2025.115919
10.1016/j.microrel.2025.115919
DOI: 10.18154/RWTH-2025-08710
URL: https://publications.rwth-aachen.de/record/1020000/files/1020000.pdf
Einrichtungen
- Lehrstuhl für Integrierte digitale Systeme und Schaltungsentwurf (611110)
Projekte
- OAPKF - Open-Access-Publikation mit Unterstützung der RWTH Aachen University (021000-OAPKF) (021000-OAPKF)
- BMBF 16ME0399 - Verbundprojekt: Neuro-inspirierte Technologien der künstlichen Intelligenz für die Elektronik der Zukunft - NEUROTEC II - (BMBF-16ME0399) (BMBF-16ME0399)
- BMBF 16ME0398K - Verbundprojekt: Neuro-inspirierte Technologien der künstlichen Intelligenz für die Elektronik der Zukunft - NEUROTEC II - (BMBF-16ME0398K) (BMBF-16ME0398K)
Thematische Einordnung (Klassifikation)
DDC: 620
OpenAccess:
PDF
Dokumenttyp
Journal Article/Contribution to a conference proceedings
Format
online, print
Sprache
English
Anmerkung
Peer reviewed article
Externe Identnummern
SCOPUS: SCOPUS:2-s2.0-105017115067
WOS Core Collection: WOS:001587518500001
Interne Identnummern
RWTH-2025-08710
Datensatz-ID: 1020000
Beteiligte Länder
Germany, Netherlands
Lizenzstatus der Zeitschrift


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; Clarivate Analytics Master Journal List ; Current Contents - Electronics and Telecommunications Collection ; Current Contents - Engineering, Computing and Technology ; Ebsco Academic Search ; Essential Science Indicators ; IF < 5 ; JCR ; SCOPUS ; Science Citation Index Expanded ; Web of Science Core Collection