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Compact x-ray microtomography system for element mapping and absorption imaging
Feldkamp, J. M. (Author) ; Schroer, C. G. (Author) ; Patommel, J. (Author) ; Lengeler, Bruno (Author) ; Günzler, T. F. (Author) ; Schweitzer, M. (Author) ; Stenzel, C. (Author) ; Dieckmann, M. (Author) ; Schroeder, W. H. (Author)
In
Review of scientific instruments : RSI 78(7), Seiten/Artikel-Nr.:073702
2007
ImpressumMelville, NY : AIP
Umfang8 S.
ISSN0034-6748
Online
DOI: 10.1063/1.2751094
10.1063/1.2751094
Einrichtungen
- Lehrstuhl für Experimentalphysik (Festkörperphysik) und II. Physikalisches Institut (132310)
- Physikalisches Institut II (hsbk010098)
- Fachgruppe Physik (130000)
Dokumenttyp
Journal Article
Format
online, print
Sprache
English
Anmerkung
Peer reviewed article
Externe Identnummern
WOS Core Collection: WOS:000248486300031
SCOPUS: SCOPUS:2-s2.0-34547579880
Interne Identnummern
RWTH-CONV-064524
Datensatz-ID: 188179
Beteiligte Länder
Germany, Netherlands
Lizenzstatus der Zeitschrift
