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Untersuchungen der strukturellen Eigenschaften von InGaAs-GaAs-Übergittern und zur Rekonstruktion des projizierten Kristallpotentials in der hochauflösenden Elektronenmikroskopie
- RWTH-CONV-116487
Additional File
Datei(en):
Privat
54328_kardex
Version 1
54328_kardex.pdf
[759.66 KB]
14 Aug 2024, 15:57
Internal catalog entry
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