Untersuchungen der strukturellen Eigenschaften von InGaAs-GaAs-Übergittern und zur Rekonstruktion des projizierten Kristallpotentials in der hochauflösenden Elektronenmikroskopie

1996

Verantwortlichkeitsangabevorgelegt von Markus Lentzen

ImpressumAachen 1996

Umfang217 S. : Ill., graph. Darst.

Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1996

Auch als:‘Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 3324

Genehmigende Fakultät
Fak00

Hauptberichter/Gutachter

Online
URL: http://hdl.handle.net/2128/21782

Einrichtungen

Dokumenttyp
Dissertation / PhD Thesis

Format
print, online

Sprache
German

Externe Identnummern
HBZ: HT007562377

Interne Identnummern
RWTH-CONV-116487
Datensatz-ID: 54328

Beteiligte Länder
Germany

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Jülich : Forschungszentrum Jülich, Zentralbibliothek, Berichte des Forschungszentrums Jülich 3324, 217 S. : Ill., graph. Darst. (1996)1996 = Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss. Fulltext by OpenAccess repository BibTeX | EndNote: XML, Text | RIS

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