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Untersuchungen der strukturellen Eigenschaften von InGaAs-GaAs-Übergittern und zur Rekonstruktion des projizierten Kristallpotentials in der hochauflösenden Elektronenmikroskopie



VerantwortlichkeitsangabeMarkus Lentzen

ImpressumJülich : Forschungszentrum Jülich, Zentralbibliothek 1996

Umfang217 S. : Ill., graph. Darst.

ReiheBerichte des Forschungszentrums Jülich ; 3324


Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss.


Genehmigende Fakultät
Fak00

Hauptberichter/Gutachter


Einrichtungen

  1. RWTH Aachen (hsbk000000)

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Dokumenttyp
Dissertation / PhD Thesis/Book

Format
print, online

Sprache
German

Externe Identnummern
HBZ: HT007526710

Interne Identnummern
RWTH-CONV-119363
Datensatz-ID: 57309

Beteiligte Länder
Germany

 GO

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