guest ::
Untersuchungen der strukturellen Eigenschaften von InGaAs-GaAs-Übergittern und zur Rekonstruktion des projizierten Kristallpotentials in der hochauflösenden Elektronenmikroskopie
1996
Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1996
Auch als:‘Berichte des Forschungszentrums Jülich ; 3324
Genehmigende Fakultät
Fak00
Hauptberichter/Gutachter
Online
URL: http://hdl.handle.net/2128/21782
Einrichtungen
External link: 
Bibliographic record
Dokumenttyp
Dissertation / PhD Thesis
Format
print, online
Sprache
German
Externe Identnummern
HBZ: HT007562377
Interne Identnummern
RWTH-CONV-116487
Datensatz-ID: 54328
Beteiligte Länder
Germany
Related:
Dissertation / PhD Thesis/Book
Untersuchungen der strukturellen Eigenschaften von InGaAs-GaAs-Übergittern und zur Rekonstruktion des projizierten Kristallpotentials in der hochauflösenden Elektronenmikroskopie
Jülich : Forschungszentrum Jülich, Zentralbibliothek, Berichte des Forschungszentrums Jülich 3324, 217 S. : Ill., graph. Darst. (1996) = Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss.
Fulltext by OpenAccess repository
BibTeX |
EndNote:
XML,
Text |
RIS
; Free to read
|
The record appears in these collections: |
PDF