Interstrip capacitances of the readout board used in large triple-GEM detectors for the CMS Muon Upgrade

Abbas, M.; Bansal, S.; Vai, I.; Ranieri, A.; Kim, J.; Cassese, F.; Petrow, H.; Shah, A.; Shopova, M.; Kumar, S.; Butalla, S.; Kaur, H.; Asghar, I.; Cavallo, N.; Misheva, M.; Gilmore, J.; Ramirez, F.; Abdelalim, A.; Loddo, F.; Raffone, G.; Muhammad, A.; Kailasapathy, B.; Bianco, M.; Vanegas, N.; Aspell, P.; Erbacher, R.; Mccoll, N.; AbuZeid, S.; Jaramillo, J.; Band, R.; Abbrescia, M.; Juodagalvis, A.; Wickramarathna, D. D. C.; CMS Muon Group; Mocellin, Giovanni; Majumdar, N.; Lista, L.; De Robertis, G.; Martiradonna, S.; Ressegotti, M.; Ferraro, A.; Oliveira, R.; Maghrbi, Y.; Vitulo, P.; Abdalla, H.; De Iorio, A.; Fabozzi, F.; Sharma, A.; Maggi, M.; Malagalage, K.; Hauser, J.; Kim, H.; Simone, F.; Sturdy, J.; Franco, M.; Ahmed, A.; Merlin, J.; Mishra, D.; Piccolo, D.; Pierluigi, D.; Park, I. C.; Huang, T.; Li, Q.; Verwilligen, P.; Gigli, S.; Petre, L.; Safonov, A.; Yu, I.; Hakkarainen, T.; Russo, A.; Virdi, A.; Irshad, A.; Rossi, B.; Bouhali, O.; Hoorani, H.; Nuzzo, S.; Yoon, I.; Mukhopadhyay, S.; Lohan, M.; Stone, B.; Benussi, L.; Malhotra, S.; Rashevski, G.; Dell Olio, D.; Juska, E.; Saviano, G.; Ahmad, A.; Fallavollita, F.; Calzaferri, S.; Hadjiiska, R.; Sharma, R.; Caponero, M.; Perera, N.; Netrakanti, P.; Zaleski, Shawn; Yang, U.; Szillasi, Z.; Aimè, C.; Bhatnagar, V.; Jeong, D.; Wickramage, N.; Hohlmann, M.; Borgonovi, L.; Wang, D.; Braibant, S.; Licciulli, F.; Kamon, T.; Dorney, B.; Aruta, C.; Tytgat, M.; Dharmaratna, W.; Sultanov, G.; Riccardi, C.; Pant, L.; Luhach, M.; Gutierrez, A.; Teyssier, D.; Moureaux, L.; Babbar, J.; Teague, D.; Rahmani, M.; Lacalamita, N.; Ban, Y.; Muhammad, S.; Gola, M.; Rodozov, M.; Venditti, R.; Conde Garcia, A.; Black, K.; Watson, I. J.; Dalchenko, M.; Chauhan, S.; Kumawat, H.; Vetens, W.; Giacomelli, P.; Agapitos, A.; Weatherwax, J.; Fiorina, D.; Rout, P.; Yang, Y.; Tuuva, T.; Colaleo, A.; Galloni, C.; De Lentdecker, G.; Collins, J.; Kaur, A.; You, Z.; Dildick, S.; Braghieri, A.; Soldani, E.; Paolucci, P.; Peck, A.; Levin, A.; Singh, J.; Ahmed, W.; Ruiz, J. D.; Kumar, A.; Avila, C.; Iaydjiev, P.; McLean, C.; Yongho, J.; Romano, E.; Ivone, F.; Passamonti, L.; Wajid, A.; Keller, Henning; Saltzberg, D.; Iorio, A.; Naimuddin, M.; Wang, K.; Hoepfner, Kerstin; Roy, D.; Starling, E.; Jha, V.; Liyanage, K.; Bianco, S.; Roskas, C.; Passeggio, G.; Sonnadara, U.; Karchin, P.; Lee, J. S. H.; Fontanesi, E.; Gruchala, M.

doi:10.18154/RWTH-2021-01891

Interstrip capacitances of the readout board used in large triple-GEM detectors for the CMS Muon Upgrade

Abbas, M. (Corresponding author) ; Abbrescia, M. ; Abdalla, H. ; Abdelalim, A. ; AbuZeid, S. ; Agapitos, A. ; Ahmad, A. ; Ahmed, A. ; Ahmed, W. ; Aimè, C. ; Aruta, C. ; Asghar, I. ; Aspell, P. ; Avila, C. ; Babbar, J. ; Ban, Y. ; Band, R. ; Bansal, S. ; Benussi, L. ; Bhatnagar, V. ; Bianco, M. ; Bianco, S. ; Black, K. ; Borgonovi, L. ; Bouhali, O. ; Braghieri, A. ; Braibant, S. ; Butalla, S. (Corresponding author) ; Calzaferri, S. ; Caponero, M. ; Cassese, F. ; Cavallo, N. ; Chauhan, S. ; Colaleo, A. ; Collins, J. ; Conde Garcia, A. ; Dalchenko, M. ; De Iorio, A. ; De Lentdecker, G. ; Dell Olio, D. ; De Robertis, G. ; Dharmaratna, W. ; Dildick, S. ; Dorney, B. ; Erbacher, R. ; Fabozzi, F. ; Fallavollita, F. ; Ferraro, A. ; Fiorina, D. ; Fontanesi, E. ; Franco, M. ; Galloni, C. ; Giacomelli, P. ; Gigli, S. ; Gilmore, J. ; Gola, M. ; Gruchala, M. ; Gutierrez, A. ; Hadjiiska, R. ; Hakkarainen, T. ; Hauser, J. ; Hoepfner, Kerstin^RWTH* ; Hohlmann, M. ; Hoorani, H. ; Huang, T. ; Iaydjiev, P. ; Irshad, A. ; Iorio, A. ; Ivone, F.^RWTH* ; Jaramillo, J. ; Jeong, D. ; Jha, V. ; Juodagalvis, A. ; Juska, E. ; Kailasapathy, B. ; Kamon, T. ; Karchin, P. ; Kaur, A. ; Kaur, H. ; Keller, Henning^RWTH* ; Kim, H. ; Kim, J. ; Kumar, A. ; Kumar, S. ; Kumawat, H. ; Lacalamita, N. ; Lee, J. S. H. ; Levin, A. ; Li, Q. ; Licciulli, F. ; Lista, L. ; Liyanage, K. ; Loddo, F. ; Lohan, M. ; Luhach, M. ; Maggi, M. ; Maghrbi, Y. ; Majumdar, N. ; Malagalage, K. ; Malhotra, S. (Corresponding author) ; Martiradonna, S. ; Mccoll, N. ; McLean, C. ; Merlin, J. ; Misheva, M. ; Mishra, D. ; Mocellin, Giovanni^RWTH* ; Moureaux, L. ; Muhammad, A. ; Muhammad, S. ; Mukhopadhyay, S. ; Naimuddin, M. ; Netrakanti, P. ; Nuzzo, S. ; Oliveira, R. ; Pant, L. ; Paolucci, P. ; Park, I. C. ; Passamonti, L. ; Passeggio, G. ; Peck, A. ; Perera, N. ; Petre, L. ; Petrow, H. ; Piccolo, D. ; Pierluigi, D. ; Raffone, G. ; Rahmani, M. ; Ramirez, F. ; Ranieri, A. ; Rashevski, G. ; Ressegotti, M. ; Riccardi, C. ; Rodozov, M. ; Romano, E. ; Roskas, C. ; Rossi, B. ; Rout, P. ; Roy, D. ; Ruiz, J. D. ; Russo, A. ; Safonov, A. ; Saltzberg, D. ; Saviano, G. ; Shah, A. ; Sharma, A. ; Sharma, R. ; Shopova, M. ; Simone, F. ; Singh, J. ; Soldani, E. ; Sonnadara, U. ; Starling, E. ; Stone, B. ; Sturdy, J. ; Sultanov, G. ; Szillasi, Z. ; Teague, D. ; Teyssier, D. ; Tuuva, T. ; Tytgat, M. ; Vai, I. ; Vanegas, N. ; Venditti, R. ; Verwilligen, P. ; Vetens, W. ; Virdi, A. ; Vitulo, P. ; Wajid, A. ; Wang, D. ; Wang, K. ; Watson, I. J. ; Weatherwax, J. ; Wickramage, N. ; Wickramarathna, D. D. C. ; Yang, Y. ; Yang, U. ; Yongho, J. ; Yoon, I. ; You, Z. ; Yu, I. ; Zaleski, Shawn^RWTH* ; CMS Muon Group (Collaboration author)

In
Journal of Instrumentation 15(12), Seiten/Artikel-Nr.:P12019

2020

ImpressumLondon : Inst. of Physics

ISSN1748-0221

Online
DOI: 10.18154/RWTH-2021-01891
DOI: 10.1088/1748-0221/15/12/P12019
10.1088/1748-0221/15/12/P12019
URL: https://publications.rwth-aachen.de/record/813673/files/813673.pdf

Einrichtungen

Inhaltliche Beschreibung (Schlagwörter)
CMS (Genormte SW) ; detector: design (Genormte SW) ; electrode (Genormte SW) ; gas electron multiplier (Genormte SW) ; muon: spectrometer (Genormte SW) ; noise (Genormte SW) ; numerical calculations (Genormte SW) ; numerical methods: finite element (Genormte SW) ; spectrometer: upgrade (Genormte SW)

Thematische Einordnung (Klassifikation)
DDC: 610

OpenAccess:
PDF

Dokumenttyp
Journal Article

Format
online

Sprache
English

Anmerkung
Peer reviewed article

Externe Identnummern
SCOPUS: SCOPUS:2-s2.0-85098248725
WOS Core Collection: WOS:000608265500012

Interne Identnummern
RWTH-2021-01891
Datensatz-ID: 813673

Beteiligte Länder
Belgium, Bulgaria, Colombia, Egypt, Finland, Germany, Hungary, India, Italy, Kuwait, Lithuania, Pakistan, Peoples R China, Qatar, South Korea, Sri Lanka, Switzerland, USA

Lizenzstatus der Zeitschrift

;

;

; Clarivate Analytics Master Journal List ; Current Contents - Physical, Chemical and Earth Sciences ; Essential Science Indicators ; IF < 5 ; JCR ; Nationallizenz