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Detecting Random Read Faults to Reduce Test Escapes in FinFET SRAMs

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In
Proceedings, 2021 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2021 : May 24-28, 2021, Belgium, Seiten/Artikel-Nr: 6 Seiten

Konferenz/Event:2021 IEEE European Test Symposium , online , ETS 2021 , 2021-05-24 - 2021-05-28

ImpressumPiscataway, NJ : IEEE

Umfang6 Seiten

ISBN978-1-6654-1848-5, 978-1-6654-1849-2, 978-1-6654-4819-2

Konferenzort: Bruges, Belgium - 1 USB-Stick

Online
DOI: 10.1109/ETS50041.2021.9465441


Einrichtungen

  1. Lehrstuhl für Integrierte digitale Systeme und Schaltungsentwurf (611110)


Thematische Einordnung (Klassifikation)
DDC: 600


Dokumenttyp
Contribution to a book/Contribution to a conference proceedings

Format
online, print, data medium

Sprache
English

Anmerkung
Peer reviewed article

Externe Identnummern
SCOPUS: SCOPUS:2-s2.0-85107419259
WOS Core Collection: WOS:000693413600027

Interne Identnummern
RWTH-2021-08829
Datensatz-ID: 826215

Beteiligte Länder
Brazil, Germany, Netherlands

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Document types > Events > Contributions to a conference proceedings
Document types > Books > Contributions to a book
Faculty of Electrical Engineering and Information Technology (Fac.6)
Public records
Publications database
611110
 Record created 2021-09-20, last modified 2026-04-07
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