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Detecting Random Read Faults to Reduce Test Escapes in FinFET SRAMs
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In
Proceedings, 2021 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2021 : May 24-28, 2021, Belgium, Seiten/Artikel-Nr: 6 Seiten
2021
Konferenzort: Bruges, Belgium - 1 USB-Stick
Online
DOI: 10.1109/ETS50041.2021.9465441
Einrichtungen
Thematische Einordnung (Klassifikation)
DDC: 600
Dokumenttyp
Contribution to a book/Contribution to a conference proceedings
Format
online, print, data medium
Sprache
English
Anmerkung
Peer reviewed article
Externe Identnummern
SCOPUS: SCOPUS:2-s2.0-85107419259
WOS Core Collection: WOS:000693413600027
Interne Identnummern
RWTH-2021-08829
Datensatz-ID: 826215
Beteiligte Länder
Brazil, Germany, Netherlands
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