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SFB 917 B01

Schnelle transiente, elektrische Analyse von resistiven Schaltphänomenen (B01)

CoordinatorDr.-Ing. Ulrich Böttger ; Dr.-Ing. Stephan Menzel ; Professor Dr. Martin Salinga
Grant period2011 - 2023
Funding bodyDeutsche Forschungsgemeinschaft
 DFG
IdentifierG:(GEPRIS)202259360

⇧ SFB 917: Resistiv schaltende Chalkogenide für zukünftige Elektronikanwendungen: Struktur, Kinetik und Bauelementskalierung "Nanoswitches" ⇧

Note: Das Projekt B1 zielt darauf ab, Strategien zur Designoptimierung von PCM- und VCM-Zellen zu entwickeln, insbesondere hinsichtlich der Skalierung. Dabei wird insbesondere die Rolle der Erwärmung als Schlüsselparameter für die Steuerung der erforderlichen Nichtlinearität der Schaltkinetik betrachtet. Die Bauelementdynamik, einschließlich des Schwellenwertschaltens, wird experimentell untersucht und durch Kontinuums- und/oder Kompaktmodelle simuliert. Für ein tieferes grundlegendes Verständnis der zugrundeliegenden Prozesse wird die ultraschnelle Anregung mit Pikosekundenpulsen eingesetzt. Schließlich wird die Fähigkeit des Mehrstufenschaltens aufgrund ihrer technologischen Relevanz ein Ziel dieses Projekts sein.
   

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Critical Analysis of Thermodiffusion‐Induced Unipolar Resistive Switching in a Metal‐Oxide‐Metal Memristive Device
Physica status solidi / A 221(22), 2300407 () [10.1002/pssa.202300407] special issue: "Special Issue: Nanoswitches: Resistively Switching Chalcogenides for Future Electronics / Issue Edited by: Matthias Wuttig, Regina Dittmann, Rainer"  GO OpenAccess  Download fulltext Files BibTeX | EndNote: XML, Text | RIS

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Revisiting the Nature of Chemical Bonding in Chalcogenides to Explain and Design their Properties
Advanced materials 35(20), 2208485 () [10.1002/adma.202208485] special issue: "Advanced Materials Hall of Fame"  GO OpenAccess  Download fulltext Files BibTeX | EndNote: XML, Text | RIS

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Journal of applied physics 127, 204501 () [10.1063/5.0003840]  GO  Download fulltext Files BibTeX | EndNote: XML, Text | RIS

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Picosecond Multilevel Resistive Switching in Tantalum Oxide Thin Films
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 Datensatz erzeugt am 2021-09-24, letzte Änderung am 2023-07-14
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