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Study of the SET switching event of VCM-based memories on a picosecond timescale
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In
Journal of applied physics 127, Seiten/Artikel-Nr.:204501
2020
Online
DOI: 10.1063/5.0003840
URL: https://publications.rwth-aachen.de/record/791787/files/791787.pdf
Einrichtungen
- Lehrstuhl für Werkstoffe der Elektrotechnik II und Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik (611610)
- JARA-Institut FIT Green IT (080044)
Projekte
- SFB 917- B01 - Schnelle transiente, elektrische Analyse von resistiven Schaltphänomenen (B01) (DFG-SFB917) (DFG-SFB917)
- DFG project 167917811 - SFB 917: Resistiv schaltende Chalkogenide für zukünftige Elektronikanwendungen: Struktur, Kinetik und Bauelementskalierung "Nanoswitches" (167917811) (167917811)
Thematische Einordnung (Klassifikation)
DDC: 530
Restricted: 
PDF
Dokumenttyp
Journal Article
Format
online
Sprache
English
Anmerkung
Peer reviewed article
Externe Identnummern
WOS Core Collection: WOS:000537104800001
Interne Identnummern
RWTH-2020-05614
Datensatz-ID: 791787
Beteiligte Länder
Germany
Related:
Journal Article (Erratum/Correction)
Erratum: “Study of the SET switching event of VCM-based memories on a picosecond timescale” [J. Appl. Phys. 127, 204501 (2020)]
Journal of applied physics 130(16), 169901 (2021) [10.1063/5.0070134]
BibTeX |
EndNote:
XML,
Text |
RIS
; Ebsco Academic Search ; IF < 5 ; JCR ; National-Konsortium ; Nationallizenz
; PubMed Central ; SCOPUS
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