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Hierarchical Memory Diagnosis

Medeiros, G. C. (Corresponding author) ; Fieback, M. ; Gebregiorgis, A. ; Taouil, M. ; Bolzani Pöhls, Letícia^RWTH* ; Hamdioui, S. (Corresponding author)

In
2022 IEEE European Test Symposium (ETS) : ETS 2022 : May 23-27, 2022, Barcelona, Spain / general chair: Salvador Manich (UPC - Universitat Politècnica de Catalunya, ES) ; general chair: Rosa Rodríguez-Montañés (UPC - Universitat Politècnica de Catalunya, ES) ; publication chair: Sergi Fransi (Infineon Technologies, DE) ; publication chair: Mottaqiallah Taouil (TU Delft, NL) ; sponsors: IEEE, IEEE Computer Society, CEDA - IEEE Council on Electronics Design Automation, TTTC, Seiten/Artikel-Nr: 2 Seiten

2022

Konferenz/Event:IEEE European Test Symposium , Barcelona , Spain , ETS , 2022-05-23 - 2022-05-27

Impressum[Piscataway, NJ] : IEEE

Umfang2 Seiten

ISBN978-1-6654-6705-6, 978-1-6654-6706-3, 978-1-6654-6707-0

Datenträger: 1 USB-Stick

Online
DOI: 10.1109/ETS54262.2022.9810467
10.1109/ETS54262.2022.9810467

Einrichtungen

1. Lehrstuhl für Integrierte digitale Systeme und Schaltungsentwurf (611110)

Dokumenttyp
Contribution to a book/Contribution to a conference proceedings

Format
online, print, data medium

Sprache
English

Anmerkung
Peer reviewed article

Externe Identnummern
SCOPUS: SCOPUS:2-s2.0-85134220078
WOS Core Collection: WOS:000853268100049

Interne Identnummern
RWTH-2022-09177
Datensatz-ID: 853943

Beteiligte Länder
Germany, Netherlands