guest ::
RAPID : an ImageJ macro for indexing electron diffraction zone axis spot patterns of cubic materials
In
Journal of applied crystallography 57(6), Seiten/Artikel-Nr.:2017-2029
2024
Online
DOI: 10.18154/RWTH-2024-11150
DOI: 10.1107/S1600576724010215
URL: https://publications.rwth-aachen.de/record/997238/files/997238.pdf
Einrichtungen
Projekte
- OAPKF - Open-Access-Publikation mit Unterstützung der RWTH Aachen University (021000-OAPKF) (021000-OAPKF)
- DFG project 278868966 - TRR 188: Schädigungskontrollierte Umformprozesse (278868966) (278868966)
- DFG project G:(GEPRIS)332088979 - Skalenübergreifende elektronenmikroskopische Charakterisierung von Verfestigungs- und Schädigungsmechanismen (B04) (332088979) (332088979)
Thematische Einordnung (Klassifikation)
DDC: 540
OpenAccess: 
PDF
Dokumenttyp
Journal Article (Letter)
Format
online
Sprache
English
Anmerkung
Peer reviewed article
Externe Identnummern
SCOPUS: SCOPUS:2-s2.0-85211001850
WOS Core Collection: WOS:001387959000029
Interne Identnummern
RWTH-2024-11150
Datensatz-ID: 997238
Beteiligte Länder
Germany
Related:
Software
RAPID, an ImageJ macro for indexing electron diffraction zone axis spot patterns of cubic materials
Zenodo (2024) [10.5281/ZENODO.13922110]
BibTeX |
EndNote:
XML,
Text |
RIS
; 
; 
; Clarivate Analytics Master Journal List ; Current Contents - Physical, Chemical and Earth Sciences ; DEAL Wiley ; Ebsco Academic Search ; Essential Science Indicators ; IF >= 5 ; JCR ; Nationallizenz
; PubMed Central ; SCOPUS ; Science Citation Index Expanded ; Web of Science Core Collection
|
The record appears in these collections: |
PDF