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High-precision scanning transmission electron microscopy at coarse pixel sampling for reduced electron dose
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In
Advanced Structural and Chemical Imaging 1(1), Seiten/Artikel-Nr.:2
2015
Online
DOI: 10.18154/RWTH-2015-05455
DOI: 10.1186/s40679-015-0003-9
URL: http://publications.rwth-aachen.de/record/538663/files/538663.pdf
URL: http://publications.rwth-aachen.de/record/538663/files/538663.pdf?subformat=pdfa
Einrichtungen
- Juniorprofessur für Mathematische Bild- und Signalverarbeitung (112430)
- Fachgruppe Mathematik (110000)
- Lehrstuhl für Mathematik und Institut für Geometrie und Praktische Mathematik (111410)
OpenAccess: 
PDF 
PDF (PDFA)
Dokumenttyp
Journal Article
Format
online
Sprache
English
Anmerkung
Peer reviewed article
Externe Identnummern
SCOPUS: SCOPUS:2-s2.0-85046848095
WOS Core Collection: WOS:000218507000002
Interne Identnummern
RWTH-2015-05455
Datensatz-ID: 538663
Beteiligte Länder
Germany, USA
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Record created 2015-10-05, last modified 2020-05-27