2003
Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 2003
Genehmigende Fakultät
Fak01
Hauptberichter/Gutachter
Tag der mündlichen Prüfung/Habilitation
2003-11-11
Online
URN: urn:nbn:de:hbz:82-opus-7049
DOI: 10.18154/RWTH-CONV-120900
URL: http://publications.rwth-aachen.de/record/59084/files/59084.pdf
Einrichtungen
Inhaltliche Beschreibung (Schlagwörter)
Gruppentesten (Genormte SW) ; Mathematik (frei) ; group testing (frei)
Thematische Einordnung (Klassifikation)
DDC: 510
Kurzfassung
Gruppentesten ist eine Klasse von Suchproblemen mit dem Ziel, jedes von n Elementen entweder als gut oder defekt zu identifizieren. Wir dürfen Tests auf beliebigen Teilmengen durchführen, die anzeigen ob die getestete Gruppe nur gute Elemente oder mindestens ein defektes Element enthält. Im (d,n)- und verallgemeinerten (d,n)-Gruppentestproblem ist bekannt, dass genau beziehungsweise höchstens d defekte Elemente vorhanden sind und wir versuchen, die Zahl der benötigten Tests im worst case zu minimieren. In dieser Dissertation führen wir eine Verallgemeinerung dieser Probleme ein, bei der der Fall, dass mehr als d Elemente defekt sind, ebenfalls erkannt werden muss und beweisen, dass die Lösung des neuen Problems genau einen Test mehr benötigt als die des (d,n)-Gruppentestproblems. Das Hauptergebnis ist ein neuer Algorithmus für all diese Probleme, dessen Anzahl benötigter Tests für n/d >= 2 um weniger als 0.255d + 0.5log2 d + 5.5 über der informationstheoretischen unteren Schranke liegt. Für d >= 10 liegt dies unter der besten in der Literatur bekannten oberen Schranke von d - 1 zusätzlichen Tests.Group testing is a class of search problems, in which we aim to identify all of n items as either good or defective. We may perform tests on arbitrary subsets, which indicate whether the tested group contains only good items or at least one defective. In the (d,n) and generalized (d,n) group testing problems, it is known that the number of defectives is exactly d respectively at most d and we try to minimize the worst case number of tests. In this thesis, we introduce a generalization of these problems by requiring the case of more than d defectives to be detected as well and prove that solving the new problem needs exactly one more test than the (d,n) group testing problem. The major result is a new algorithm for all these problems whose required number of tests is for n/d >= 2 less than 0.255d + 0.5log2 d + 5.5 above the information lower bound. For d >= 10, this is below the best known upper bound of d - 1 additional tests given in the literature.
OpenAccess: PDF
(additional files)
Dokumenttyp
Dissertation / PhD Thesis
Format
online, print
Sprache
English
Externe Identnummern
HBZ: HT013862659
Interne Identnummern
RWTH-CONV-120900
Datensatz-ID: 59084
Beteiligte Länder
Germany
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