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A systematic approach for quantitative orientation and phase fraction analysis of thin films through grazing-incidence X-ray diffraction
Gasser, Fabian ; John, Sanjay ; Smets, Jorid ; Simbrunner, Josef ; Fratschko, Mario ; Rubio-Giménez, Víctor ; Ameloot, Rob ; Steinrück, Hans-Georg ; Resel, Roland
In
Journal of applied crystallography 58(4), Seiten/Artikel-Nr.:1288-1298
2025
ImpressumCopenhagen : Munksgaard
ISSN0021-8898
Online
DOI: 10.1107/S1600576725004935
10.1107/S1600576725004935
Einrichtungen
- Lehrstuhl für Katalytische Grenzflächen für die chemische Wasserstoffspeicherung (FZ Jülich) (157410)
- Fachgruppe Chemie (150000)
Thematische Einordnung (Klassifikation)
DDC: 540
Dokumenttyp
Journal Article
Format
online, print
Sprache
English
Anmerkung
Peer reviewed article
Externe Identnummern
SCOPUS: SCOPUS:2-s2.0-105012924327
WOS Core Collection: WOS:001546346000017
PubMed: pmid:40765963
Interne Identnummern
RWTH-2026-01466
Datensatz-ID: 1028115
Beteiligte Länder
Austria, Belgium, Germany, Spain
Lizenzstatus der Zeitschrift


; Clarivate Analytics Master Journal List ; Current Contents - Physical, Chemical and Earth Sciences ; DEAL Wiley ; Ebsco Academic Search ; Essential Science Indicators ; IF >= 5 ; JCR ; Nationallizenz

; PubMed Central ; SCOPUS ; Science Citation Index Expanded ; Web of Science Core Collection