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Optical and structural characterization of orthorhombic LaLuO3 using extreme ultraviolet reflectometry
Tryus, Maksym (Corresponding author)RWTH* ; Nikolaev, Konstantin V. ; Makhotkin, Igor A. ; Schubert, JürgenRWTH* ; Kibkalo, LidiaRWTH* ; Danylyuk, SerhiyRWTH* ; Giglia, Angelo ; Nicolosi, Piergiorgio ; Juschkin, LarissaRWTH*
In
Thin solid films 680, Seiten/Artikel-Nr.:94-101
2019
ImpressumAmsterdam [u.a.] : Elsevier
ISSN0040-6090
Online
DOI: 10.1016/j.tsf.2019.04.037
10.1016/j.tsf.2019.04.037
Einrichtungen
- Lehrstuhl für Technologie optischer Systeme (418910)
- JARA-FIT (080009)
- Lehr- und Forschungsgebiet für Experimentalphysik (139420)
- Fachgruppe Physik (130000)
Thematische Einordnung (Klassifikation)
DDC: 660
Dokumenttyp
Journal Article
Format
online, print
Sprache
English
Anmerkung
Peer reviewed article
Externe Identnummern
SCOPUS: SCOPUS:2-s2.0-85064819744
WOS Core Collection: WOS:000467389900015
Interne Identnummern
RWTH-2019-05066
Datensatz-ID: 761704
Beteiligte Länder
Germany, Italy, Netherlands


; Clarivate Analytics Master Journal List ; Current Contents - Engineering, Computing and Technology ; Current Contents - Physical, Chemical and Earth Sciences ; Ebsco Academic Search ; IF < 5 ; JCR ; Nationallizenz

; SCOPUS ; Science Citation Index ; Science Citation Index Expanded ; Web of Science Core Collection